適用製品
接触電位および比誘電率の測定システムおよび測定方法
目的
既存の装置を活用して、接触電位および比誘電率を簡便に測定することが可能な測定システムおよび測定方法を提供する。
効果
既存のＫＰ法用の装置を活用して、接触電位および比誘電率を簡便に測定することが可能な測定システムおよび測定方法が提供される。
技術概要
被測定試料とプローブ電極の間に可変電圧電源を電気的に接続し、前記被測定試料と前記プローブ電極との距離を周期的に変化させ、前記被測定試料と前記プローブ電極との間に流れる電流Ｉ↓１または前記電流Ｉ↓１を増幅したのちの信号電圧Ｖ↓１を測るケルビンプローブ測定方法を用いた測定方法であって、
前記電流Ｉ↓１または前記信号電圧Ｖ↓１が０になるときの、前記可変電圧電源による印加電圧Ｖにより接触電位Ｖ↓Ｃを求め、
前記可変電圧電源による印加電圧Ｖに対して前記信号電圧Ｖ↓１の振幅幅Ｖ↓(ｐｅａｋｔｏｐｅａｋ)が描く特性曲線の傾きαと、比誘電率ε′がわかっている材料からなる参照試料を前記特性曲線を得るのと同じ条件で測定した特性曲線の傾きα′を使用して、
ε＝ε′×α／α′
から比誘電率εを求める、接触電位および比誘電率の測定の測定方法。
基本情報
開放特許情報
)
登録者情報
その他の情報
