接触電位および比誘電率の測定システムおよび測定方法
- 開放特許情報番号
- L2026000865
- 開放特許情報登録日
- 2026/5/28
- 最新更新日
- 2026/5/28
基本情報
| 出願番号 | 特願2024-128630 |
|---|---|
| 出願日 | 2024/8/5 |
| 出願人 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2026/2/18 |
| 発明の名称 | 接触電位および比誘電率の測定システムおよび測定方法 |
| 技術分野 | 情報・通信、電気・電子 |
| 機能 | 検査・検出 |
| 適用製品 | 接触電位および比誘電率の測定システムおよび測定方法 |
| 目的 | 既存の装置を活用して、接触電位および比誘電率を簡便に測定することが可能な測定システムおよび測定方法を提供する。 |
| 効果 | 既存のＫＰ法用の装置を活用して、接触電位および比誘電率を簡便に測定することが可能な測定システムおよび測定方法が提供される。 |
技術概要) |
被測定試料とプローブ電極の間に可変電圧電源を電気的に接続し、前記被測定試料と前記プローブ電極との距離を周期的に変化させ、前記被測定試料と前記プローブ電極との間に流れる電流Ｉ↓１または前記電流Ｉ↓１を増幅したのちの信号電圧Ｖ↓１を測るケルビンプローブ測定方法を用いた測定方法であって、
前記電流Ｉ↓１または前記信号電圧Ｖ↓１が０になるときの、前記可変電圧電源による印加電圧Ｖにより接触電位Ｖ↓Ｃを求め、 前記可変電圧電源による印加電圧Ｖに対して前記信号電圧Ｖ↓１の振幅幅Ｖ↓(ｐｅａｋｔｏｐｅａｋ)が描く特性曲線の傾きαと、比誘電率ε′がわかっている材料からなる参照試料を前記特性曲線を得るのと同じ条件で測定した特性曲線の傾きα′を使用して、 ε＝ε′×α／α′ から比誘電率εを求める、接触電位および比誘電率の測定の測定方法。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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