磁性薄膜チップ、磁気測定装置及び磁性薄膜チップの製造方法
- 開放特許情報番号
- L2026000343
- 開放特許情報登録日
- 2026/2/13
- 最新更新日
- 2026/2/13
基本情報
| 出願番号 | 特願2023-207222 |
|---|---|
| 出願日 | 2023/12/7 |
| 出願人 | 慶應義塾 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2025/6/19 |
| 発明の名称 | 磁性薄膜チップ、磁気測定装置及び磁性薄膜チップの製造方法 |
| 技術分野 | 電気・電子、情報・通信 |
| 機能 | 材料・素材の製造 |
| 適用製品 | 磁性薄膜チップ、磁気測定装置及び磁性薄膜チップの製造方法 |
| 目的 | 高いAMR比を有することができる磁性薄膜チップを提供する。 |
| 効果 | 高いAMR比を有することができる。 |
技術概要![]() |
有機基板と、
前記有機基板の主面に設けられた、矩形状の平面形状を有する磁性薄膜と、 有し、 前記磁性薄膜の表面の算術平均粗さRaが、0.65nm以下である、磁性薄膜チップ。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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