磁性薄膜チップ、磁気測定装置及び磁性薄膜チップの製造方法

開放特許情報番号
L2026000343
開放特許情報登録日
2026/2/13
最新更新日
2026/2/13

基本情報

出願番号 特願2023-207222
出願日 2023/12/7
出願人 慶應義塾
公開番号 特開2025-091769
公開日 2025/6/19
発明の名称 磁性薄膜チップ、磁気測定装置及び磁性薄膜チップの製造方法
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 材料・素材の製造
適用製品 磁性薄膜チップ、磁気測定装置及び磁性薄膜チップの製造方法
目的 高いAMR比を有することができる磁性薄膜チップを提供する。
効果 高いAMR比を有することができる。
技術概要
有機基板と、
前記有機基板の主面に設けられた、矩形状の平面形状を有する磁性薄膜と、
有し、
前記磁性薄膜の表面の算術平均粗さRaが、0.65nm以下である、磁性薄膜チップ。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 学校法人慶應義塾

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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