| 出願番号 |
特願2024-545720 |
| 出願日 |
2023/9/8 |
| 出願人 |
国立大学法人 東京大学 |
| 公開番号 |
WO2024/053724 |
| 公開日 |
2024/3/14 |
| 発明の名称 |
信号処理装置、信号処理方法及びプログラム |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
機械・部品の製造、制御・ソフトウェア |
| 適用製品 |
信号処理装置、信号処理方法及びプログラム |
| 目的 |
測定コスト及び測定時間の少なくとも一つを低減しながら測定対象器の位相雑音を測定可能な信号処理装置、信号処理方法及びプログラムを提供する。 |
| 効果 |
測定コスト及び測定時間の少なくとも一つを低減しながら測定対象器の位相雑音を測定可能である。 |
技術概要
 |
測定対象器から出力された測定対象信号が複数の測定器によってそれぞれ独立にアナログデジタル変換された複数の測定対象信号を取得する取得部と、
前記複数の測定対象信号それぞれのゼロ交差時間と理想的な正弦波信号のゼロ交差時間との時間差である、複数のゼロ交差ゆらぎ（ＺＣＦ）を導出する導出部と、
前記複数のＺＣＦに基づいて、前記測定対象器の位相雑音を算出する算出部と、
を備える信号処理装置。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
)