試験装置および有接点リレーの劣化判定方法
- 開放特許情報番号
- L2026000241
- 開放特許情報登録日
- 2026/2/3
- 最新更新日
- 2026/2/3
基本情報
| 出願番号 | 特願2020-033175 | ||
|---|---|---|---|
| 出願日 | 2020/2/28 | ||
| 出願人 | 四国計測工業株式会社 | ||
| 公開番号 | |||
| 公開日 | 2021/9/13 | ||
| 登録番号 | |||
| 特許権者 | 四国計測工業株式会社 | ||
| 発明の名称 | 試験装置および有接点リレーの劣化判定方法 | ||
| 技術分野 | 電気・電子、機械・加工、その他 | ||
| 機能 | 検査・検出 | ||
| 適用製品 | 有接点リレー劣化診断装置 | ||
| 目的 | 有接点リレーの劣化を高い精度で予測可能な試験装置、および有接点リレーの劣化判定方法を提供すること | ||
| 効果 | 有接点リレーの劣化を高い精度で予測することができる。 | ||
| 技術概要 |
複数の有接点リレーと、有接点リレーに印加する電圧を制御する電圧制御部と、有接点リレーの駆動を制御する駆動制御部と、有接点リレーをオン状態とし、試験対象物に所定の試験電圧を印加することで、試験対象物の電気的特性を判定する試験処理部と、有接点リレーをオン状態とするための駆動制御を開始してから有接点リレーがオン状態となるまでの動作時間、または、有接点リレーをオフ状態とするための駆動制御を開始してから有接点リレーがオフ状態となるまでの復帰時間に基づいて、有接点リレーの劣化を判定する劣化判定部と、を有し、劣化判定部は、有接点リレーの劣化を判定する場合の劣化判定電圧として、試験電圧よりも低い電圧を印加させる、試験装置。 | ||
| 実施実績 | 【試作】 | ||
| 許諾実績 | 【無】 | ||
| 特許権譲渡 | 【否】 | ||
| 特許権実施許諾 | 【可】
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登録者情報
| 登録者名称 | 四国計測工業株式会社 |
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その他の情報
| 関連特許 |
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