撮像装置、リレー光学系、及び計測システム

開放特許情報番号

L2026000203

開放特許情報登録日

2026/1/29

最新更新日

2026/1/29

基本情報

出願番号	特願2010-116802
出願日	2010/5/20
出願人	国立大学法人　東京大学
公開番号	特開2011-244357
公開日	2011/12/1
登録番号	特許第5655211号
特許権者	国立大学法人　東京大学
発明の名称	撮像装置、リレー光学系、及び計測システム
技術分野	電気・電子、情報・通信
機能	機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品	撮像装置、リレー光学系、計測システム
目的	微弱な蛍光像を高速かつ高精度でより確実に検出できる撮像装置を提供する。 また、イメージ増倍装置の蛍光像を高精度かつ高効率で固体撮像素子等の撮像面に結像できるリレー光学系を提供する。 また、不規則に発生する事象等を高速かつ高精度で確実に計測可能な計測システムを提供する。
効果	出力面の蛍光像を少ない歪で効率良く信号変換装置の撮像面上に結像させることができる。 イメージ増倍装置の出力面上の蛍光像を撮像面上に適正な倍率で結像させることができ、高精度の撮像が可能になる。 不規則に発生する事象に同期又は予測させてその事象の撮像を行うことができ、高速の事象を的確に記録することが可能になる。 撮像を、高感度で高精細なものとすることができる。
技術概要	微弱な事象を蛍光像に変換するイメージ増倍装置と、 前記イメージ増倍装置から出力された蛍光像を電気的な画像信号に変換する信号変換装置と、 前記イメージ増倍装置の出力面における前記蛍光像を前記信号変換装置の撮像面に投射するともに、前記出力面側でテレセントリックであるリレー光学系と を備え、 前記イメージ増倍装置の前記出力面を構成する蛍光体の分光輝度分布特性に合わせて前記信号変換装置の前記撮像面におけるスポット特性を調整した、撮像装置。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	国立大学法人東京大学

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】