計測装置
- 開放特許情報番号
- L2025001616
- 開放特許情報登録日
- 2025/12/11
- 最新更新日
- 2025/12/11
基本情報
| 出願番号 | 特願2021-079270 |
|---|---|
| 出願日 | 2021/5/7 |
| 出願人 | 国立大学法人 東京大学 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2022/11/17 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | 国立大学法人 東京大学 |
| 発明の名称 | 計測装置 |
| 技術分野 | 情報・通信 |
| 機能 | 機械・部品の製造、その他 |
| 適用製品 | 計測装置 |
| 目的 | 連続高速スキャンが可能である計測装置を提供する。 |
| 効果 | 連続高速スキャンが可能となる。 |
技術概要) |
非機械的に波長掃引した一連のレーザ光をパルス列として出力する波長可変レーザと、
非機械的な光学特性により前記パルス列を空間的に分散させて対象に照射し、前記対象からの反射光を逆行させる空間分散デバイスと、 前記空間分散デバイスを介して、前記反射光を受光する受信装置と、 前記受信装置による反射光の検出タイミングと前記パルス列の出力タイミングとから前記対象までの距離を決定する信号処理装置と、 を備え、 前記信号処理装置は、前記パルス列のタイミング情報から各レーザ光の射出方向に関する情報を決定し、前記対象までの距離を決定するために、前記パルス列を構成するパルス単位で前記レーザ光から得た参照信号にヒルベルト変換を行った信号と前記反射光の計測信号との乗算処理を行い、前記乗算処理後の前記参照信号と前記計測信号との位相差を計算する計測装置。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
|---|---|
その他の情報
| 関連特許 |
|
|---|