試料測定装置及び試料測定方法

基本情報

出願番号	特願2024-134773
出願日	2024/8/13
出願人	国立大学法人　東京大学
公開番号	特開2025-028773
公開日	2025/3/3
発明の名称	試料測定装置及び試料測定方法
技術分野	情報・通信
機能	検査・検出、機械・部品の製造
適用製品	試料測定装置及び試料測定方法
目的	支持点に起因する振動損失を低減しつつＱ値のような試料の特性や性状を計測することができる試料測定装置及び試料測定方法を提供する。
効果	支持装置が試料を少なくとも長手方向に可動な状態で支持するので、支持点に起因する振動損失を低減した状態で試料を計測することができ、試料の計測を高精度化することができる。
技術概要	試料の特性又は性状を測定する試料測定装置であって、前記試料を支持する支持装置と、前記支持装置に支持された前記試料に振動を生じさせる振動励起装置とを備え、前記振動励起装置は、前記支持装置に支持された前記試料を、前記試料の長手方向へ伸縮させ、前記支持装置は、前記試料を、少なくとも前記長手方向に可動な状態で支持する、試料測定装置。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者名称	国立大学法人東京大学