| 出願番号 |
特願2023-111491 |
| 出願日 |
2023/7/6 |
| 出願人 |
国立大学法人金沢大学 |
| 公開番号 |
特開2024-132783 |
| 公開日 |
2024/10/1 |
| 発明の名称 |
Ｘ線ＣＴ検査における被曝線量実測値をＣＴ画像を援用して解析するシステム |
| 技術分野 |
食品・バイオ、化学・薬品 |
| 機能 |
制御・ソフトウェア |
| 適用製品 |
被曝線量測定技術 |
| 目的 |
Ｘ線ＣＴ装置にて取得されたＣＴ画像の被検者の診断に用いられていない部分の情報を有効に活用することで、線量計に対する放射線の入射方向を推定し、少数の線量計を用いて精度の高い解析ができる放射線線量の解析システムの提供。 |
| 効果 |
Ｘ線の入射方向を推定することで、線量分布を線量の実測値にフィッティングする。
線量計を用いた実測値から、被検者の表面線量の最大値と最小値および平均値を高精度に解析できる。 |
技術概要
 |
模擬ファントムを用いた放射線線量の線量分布の作成手段と、被検者を撮像したＸ線ＣＴ画像のＳＤ（ＣＴ値の標準偏差）分布の作成手段を備え、
前記線量分布と前記ＳＤ分布とからＸ線の入射方向を推定することで被検者への正しい被曝線量を解析する解析手段を有することを特徴とする被曝線量解析システム。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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