紫外光測定装置

開放特許情報番号
L2025000209
開放特許情報登録日
2025/3/18
最新更新日
2025/3/18

基本情報

出願番号 特願2023-004880
出願日 2023/1/17
出願人 学校法人 東洋大学
公開番号 特開2023-105810
公開日 2023/7/31
発明の名称 紫外光測定装置
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 紫外光測定装置
目的 表面に凹凸を設けた蛍光体が紫外光の照射によって発する可視光または近赤外光の蛍光を測定することによって、簡便かつ安価な可視、近赤外用の光検出器を使って紫外光を高感度に検出できる紫外光測定装置を提供する。
効果 紫外光の照射によって可視光または近赤外光の蛍光を発する蛍光体の表面を凹凸に加工しVIS NIR Si-PDの受光面に付加することにより、照射した紫外光の強度に比例した強度の可視光または近赤外光を安価なVIS NIR Si-PDを使って高感度で測定することができた。FE-PDに使用する蛍光体の表面を凹凸に加工することによって紫外光の検出感度を増強することができた。あらかじめ作成した検量線を使うことによってVIS NIR Si-PDを使って測定した蛍光体が発する可視光または近赤外光の蛍光強度を照射した紫外光の強度に定量的に換算することができた。
技術概要
紫外光の照射によって蛍光体が発する蛍光の強度を使って当該紫外光の強度を測定する紫外光測定装置において、当該蛍光体の表面の一部または全部に凹凸を設けることを特徴とする紫外光測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 学校法人東洋大学

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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