副鼻腔疾患判定補助プログラム、副鼻腔疾患判定学習プログラム、情報処理装置、副鼻腔疾患判定補助方法及び副鼻腔疾患判定学習方法
- 開放特許情報番号
- L2024002090
- 開放特許情報登録日
- 2024/11/21
- 最新更新日
- 2024/11/21
基本情報
| 出願番号 | 特願2023-192646 |
|---|---|
| 出願日 | 2023/11/11 |
| 出願人 | 国立大学法人福井大学 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2024/5/23 |
| 発明の名称 | 副鼻腔疾患判定補助プログラム、副鼻腔疾患判定学習プログラム、情報処理装置、副鼻腔疾患判定補助方法及び副鼻腔疾患判定学習方法 |
| 技術分野 | 食品・バイオ、化学・薬品 |
| 機能 | 制御・ソフトウェア、機械・部品の製造 |
| 適用製品 | 副鼻腔疾患判定補助プログラム、副鼻腔疾患判定学習プログラム、情報処理装置、副鼻腔疾患判定補助方法及び副鼻腔疾患判定学習方法 |
| 目的 | ＣＴ画像から副鼻腔疾患の診断を支援する方法において、区画化の学習を効率化し、複数の副鼻腔疾患の診断を支援する副鼻腔疾患判定補助プログラム、副鼻腔疾患判定学習プログラム、情報処理装置、副鼻腔疾患判定補助方法及び副鼻腔疾患判定学習方法を提供する。 |
| 効果 | ＣＴ画像から副鼻腔疾患の診断を支援する方法において、区画化の学習を効率化し、複数の副鼻腔疾患の診断を支援することができる。
複数断面のＣＴ画像のうち複数の区画のそれぞれに対応する領域に含まれる画素のパラメータの統計値に基づいて炎症を推定することができる。 複数の区画数の空間において、複数の区画の炎症の組み合わせと、関連付情報中の疾患毎の複数の区画の炎症の組み合わせとの距離に基づいて類似度を算出することができる。 |
技術概要) |
副鼻腔を含む複数断面のＣＴ画像であって、当該複数断面のそれぞれについて副鼻腔の区画に該当する領域のアノテーションが付与されたＣＴ画像を用いて学習した第１の学習結果に基づいて、患者の複数断面のＣＴ画像のそれぞれについて副鼻腔の複数の区画を特定する特定手段と、
前記複数断面のＣＴ画像から、前記複数の区画のそれぞれについて生じている炎症を推定する推定手段と、 前記複数の区画の炎症の組み合わせについて、副鼻腔の複数の疾患と副鼻腔の複数の区画の炎症の組み合わせとを予め関連付けた関連付情報との類似度に基づいて、副鼻腔の疾患候補を判定する判定手段として動作させる副鼻腔疾患判定補助プログラム。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【可】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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