導電領域の形成方法、及び薄膜トランジスタの製造方法

開放特許情報番号
L2024002084
開放特許情報登録日
2024/11/19
最新更新日
2024/11/19

基本情報

出願番号 特願2020-193069
出願日 2020/11/20
出願人 日本放送協会
公開番号 特開2021-097221
公開日 2021/6/24
登録番号 特許第7549515号
特許権者 日本放送協会
発明の名称 導電領域の形成方法、及び薄膜トランジスタの製造方法
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造
適用製品 導電領域の形成方法、及び薄膜トランジスタの製造方法
目的 電極(例えば、薄膜トランジスタのゲート電極)への物理的なダメージを避けつつ、また取り扱いに注意が必要な可燃性ガスを用いることなく、酸化物半導体膜を用いて実施することができる、導電領域の形成方法及び薄膜トランジスタの製造方法を提供する。
効果 電極(薄膜トランジスタのゲート電極等)への物理的なダメージを避けつつ、また取り扱いに注意が必要な可燃性ガスを用いることなく、酸化物半導体膜の低抵抗化が可能になり、高導電率の透明電極又は導電領域、低抵抗化されたソース・ドレイン領域を有する薄膜トランジスタを製造することができる。
技術概要
酸化物半導体膜の所定の領域を水蒸気プラズマに晒す工程を含む、導電領域の形成方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2024 INPIT