ＭＴＦ測定装置およびそのプログラム

開放特許情報番号

L2024001850

開放特許情報登録日

2024/10/16

最新更新日

2024/10/16

基本情報

出願番号	特願2020-208916
出願日	2020/12/17
出願人	日本放送協会
公開番号	特開2021-096260
公開日	2021/6/24
登録番号	特許第7514181号
特許権者	日本放送協会
発明の名称	ＭＴＦ測定装置およびそのプログラム
技術分野	情報・通信
機能	制御・ソフトウェア
適用製品	撮像系の空間周波数特性を示すＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置およびそのプログラム
目的	チャートに均一に照明が照射されていない場合でも、輝度を補正して精度よくＭＴＦを測定することが可能なＭＴＦ測定装置およびそのプログラムを提供する。
効果	照明の均一性を確保することが困難な測定環境であっても、精度よくＭＴＦを測定することができる。
技術概要	境界でコントラストの異なるチャートを用いて、撮像系の空間周波数特性を表すＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置であって、 撮像系が前記チャートを撮像したチャート画像から、境界を含んだ画像であるＲＯＩ画像を抽出するＲＯＩ画像抽出手段と、 ＲＯＩ画像から、エッジおよびその傾きを検出するエッジ検出手段と、 ＲＯＩ画像の画素位置と、画素位置を前記エッジの傾きに沿って投影した、ＲＯＩ画像の画素幅よりも小さい画素幅を単位とする投影軸のビンとを対応付ける投影位置対応付け手段と、 ＲＯＩ画像の前記エッジの近傍以外の画像領域において、輝度分布の勾配補正率を一次関数で近似する勾配補正率関数近似手段と、 一次関数を用いて前記ＲＯＩ画像の画素位置ごとの輝度分布の勾配補正率を算出する勾配補正率算出手段と、 ＲＯＩ画像の画素位置ごとの画素値を、輝度分布の勾配補正率で補正し、対応するビンに投影する勾配補正投影手段と、 ビンに投影された画素値をビンごとに平均化してエッジプロファイルを生成する平均化手段と、 エッジプロファイルからＭＴＦを算出する周波数特性算出手段と、 を備えることを特徴とするＭＴＦ測定装置。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	一般財団法人　ＮＨＫ財団

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】