| 出願番号 |
特願2022-034464 |
| 出願日 |
2022/3/7 |
| 出願人 |
国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 |
| 公開番号 |
特開2023-130029 |
| 公開日 |
2023/9/20 |
| 発明の名称 |
測定装置及び測定方法 |
| 技術分野 |
電気・電子、情報・通信 |
| 機能 |
制御・ソフトウェア、機械・部品の製造 |
| 適用製品 |
パルス状の電子ビームの縦方向位相空間分布を測定するための測定装置及び測定方法 |
| 目的 |
パルス状の荷電粒子ビームの縦方向位相空間分布を容易に測定可能な測定装置及び測定方法を実現する。 |
| 効果 |
荷電粒子ビームの縦方向位相空間分布を容易に測定することができる。 |
技術概要
 |
パルス状の荷電粒子ビームの縦方向位相空間分布を測定する測定装置であって、
偏向磁石を用いて、前記荷電粒子ビームの線状経路を、エネルギーの異なる荷電粒子が通過する複数の経路を含む面状経路に変換する変換機構と、
前記荷電粒子ビームの縦方向位相空間分布を、前記荷電粒子ビームによって電気光学結晶において偏光方向が変化したプローブレーザ光の二次元強度分布として測定する測定機構と、を備えている、
ことを特徴とする測定装置。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
)