画像による塗膜厚計測方法、塗膜厚計測プログラム、及び塗膜厚計測システム
- 開放特許情報番号
- L2024000917
- 開放特許情報登録日
- 2024/4/23
- 最新更新日
- 2025/8/26
基本情報
| 出願番号 | 特願2021-138655 |
|---|---|
| 出願日 | 2021/8/27 |
| 出願人 | 国立研究開発法人 海上・港湾・航空技術研究所 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2023/3/9 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | 国立研究開発法人 海上・港湾・航空技術研究所 |
| 発明の名称 | 画像による塗膜厚計測方法、塗膜厚計測プログラム、及び塗膜厚計測システム |
| 技術分野 | 情報・通信 |
| 機能 | 制御・ソフトウェア |
| 適用製品 | 画像による塗膜厚計測方法、塗膜厚計測プログラム、及び塗膜厚計測システム |
| 目的 | 非接触かつ面的な膜厚測定を高精度に行うことができる、画像による塗膜厚計測方法、塗膜厚計測プログラム、及び塗膜厚計測システムを提供する。 |
| 効果 | 画像による塗膜厚計測方法によれば、画像を用いて非接触かつ面的な膜厚測定を高精度に行うことができる。 |
技術概要) |
画像により塗膜厚を計測する方法であって、
対象とする塗料の膜厚を変えて塗った塗膜を有した複数の試験片に対して、光を照射し前記塗膜の散乱係数（Ｓ）と、吸収係数（Ｋ）を推定し決定するパラメータ決定ステップと、 前記散乱係数（Ｓ）と前記吸収係数（Ｋ）をＫｕｂｅｌｋａ−Ｍｕｎｋ理論に基づいた前記塗膜の反射光強度（Ｒ（Ｔ））と塗膜厚（Ｔ）の関係式に適用し膜厚推定式を導出する膜厚推定式導出ステップと、 計測対象とする対象物に塗った前記塗膜に対して照明を行い、撮像手段で反射光を画像として取得する画像取得ステップと、 前記画像から反射光強度（Ｒ（Ｔ））を求め前記膜厚推定式に適用し前記塗膜厚（Ｔ）を求める塗膜厚計算ステップと、 求めた前記塗膜厚（Ｔ）を提供する塗膜厚提供ステップとを有することを特徴とする画像による塗膜厚計測方法。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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