質量分析装置および質量分析方法
- 開放特許情報番号
- L2024000841
- 開放特許情報登録日
- 2024/4/17
- 最新更新日
- 2024/4/17
基本情報
| 出願番号 | 特願2014-149023 |
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| 出願日 | 2014/7/22 |
| 出願人 | 学校法人 工学院大学 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2016/2/8 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | 学校法人 工学院大学 |
| 発明の名称 | 質量分析装置および質量分析方法 |
| 技術分野 | 電気・電子 |
| 機能 | 機械・部品の製造、その他 |
| 適用製品 | 質量分析装置および質量分析方法 |
| 目的 | 質量分析時における放射性セシウムとバリウムなどの他の元素との干渉を抑制し、放射性セシウムの分離検出および分布可視化を実現することができる質量分析装置および質量分析方法を提供する。 |
| 効果 | 質量分析時における放射性セシウムとバリウムなどの他の元素との干渉を抑制し、放射性セシウムの分離検出および分布可視化を実現することができる質量分析装置および質量分析方法が提供される。 |
技術概要) |
放射性セシウムを含む試料が配置される試料台と、
前記試料台に配置された試料にイオンビームを照射し、試料から放射性セシウムを放出させるイオンビーム源と、 放射性セシウムを共鳴イオン化させる波長を有し、かつ、バリウムのイオン化が生じないレーザ強度である、パルス化されたレーザ光を、放出された放射性セシウムに照射し、放射性セシウムをイオン化させるレーザ光源と、 イオン化された放射性セシウムを質量分析する分析部と、 を備える質量分析装置。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
アピール情報
| アピール内容 | 工学院大学研究シーズ集（全体）
https://www.kogakuin.ac.jp/research/seeds/index.html 研究活動報告書 https://www.kogakuin.ac.jp/research/r_insutitute/report_list.html 研究室一覧（全体） https://www.kogakuin.ac.jp/faculty/lab/index.html |
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登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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