光学測定装置及び光学測定方法

開放特許情報番号
L2024000600
開放特許情報登録日
2024/3/27
最新更新日
2024/3/27

基本情報

出願番号 特願2016-004384
出願日 2016/1/13
出願人 国立大学法人電気通信大学
公開番号 特開2016-130855
公開日 2016/7/21
登録番号 特許第6762063号
特許権者 国立大学法人電気通信大学
発明の名称 光学測定装置及び光学測定方法
技術分野 情報・通信、生活・文化
機能 制御・ソフトウェア、機械・部品の製造
適用製品 光学測定装置及び光学測定方法
目的 光学測定装置の光学調整を容易にするとともに、装置を小型化する。
効果 光学測定装置の光学調整を容易にするとともに、装置を小型化することができる。
技術概要
光源と、
前記光源で発光された光を、測定対象物に照射させる物体波と、物体波と干渉させるための参照波とに分岐する分岐部と、前記分岐部で分岐された物体波又は参照波のいずれか一方の位相を変調する変調器と、物体波及び参照波を球面物体波及び球面参照波に変換して出力する変換部とを備える光導波路と、
測定対象物を透過した球面物体波と、球面参照波とを合成する合成部と、
前記合成部によって合成された光の干渉縞を電気信号として受光し、電子計算機に出力する撮像素子と、
を備え、
前記光導波路は、
前記分岐部と前記変換部との間で前記物体波が伝搬する物体波用コアと、
前記分岐部と前記変換部との間で前記参照波が伝搬し、且つ前記物体波用コアとは異なる位置に設けられた参照波用コアと、
を備え、
前記物体波用コアと前記参照波用コアとが、前記測定対象物を透過した球面物体波と前記球面参照波とが合成される際に互いになす角度と同じ角度をなして互いに異なる方向に沿って設けられている、
光学測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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