波長走査型光干渉断層撮影装置及び断層撮影方法

開放特許情報番号

L2024000465

開放特許情報登録日

2024/3/12

最新更新日

2024/3/12

基本情報

出願番号	特願2015-122155
出願日	2015/6/17
出願人	学校法人北里研究所
公開番号	特開2017-009327
公開日	2017/1/12
登録番号	特許第5987186号
特許権者	学校法人北里研究所
発明の名称	波長走査型光干渉断層撮影装置及び断層撮影方法
技術分野	情報・通信
機能	機械・部品の製造
適用製品	波長走査型光干渉断層撮影装置及び断層撮影方法
目的	装置の高性能化や複雑なデバイスの付加を要することなく、利用者（装置のオペレータ）がより所望する態様で断層画像を取得することが可能な波長走査型光干渉断層撮影装置及び断層撮影方法を提供する。
効果	波長走査型光干渉断層撮影装置、断層撮影方法によれば、装置の高性能化や複雑なデバイスの付加を要することなく、利用者がより所望する態様で断層画像を取得することができる。
技術概要	波長が走査されてなる波長走査光を出力する波長走査光源と、 前記波長の走査の過程において、前記波長走査光の波数が所定の変化量だけ変化したタイミングで立ち上り及び立ち下りを交互に繰り返すクロック信号を出力する波数等間隔クロック出力部と、 前記波長走査光と、当該波長走査光が撮影対象物にて反射してなる対象物反射光と、の干渉光の強度を、前記クロック信号の立ち上りのタイミングでサンプリングする第１サンプリング部と、 前記干渉光の強度を、前記クロック信号の立ち下りのタイミングでサンプリングする第２サンプリング部と、 前記第１サンプリング部で取得された第１サンプリングデータ列と、前記第２サンプリング部で取得された第２サンプリングデータ列と、の両方に基づいて断層画像データを生成する断層画像生成部と、 を備える波長走査型光干渉断層撮影装置。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	学校法人北里研究所

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】