２次元分光法及び２次元分光装置
- 開放特許情報番号
- L2024000373
- 開放特許情報登録日
- 2024/2/29
- 最新更新日
- 2024/2/29
基本情報
| 出願番号 | 特願2019-509003 |
|---|---|
| 出願日 | 2019/1/22 |
| 出願人 | 国立大学法人電気通信大学 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2019/9/6 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | 国立大学法人電気通信大学 |
| 発明の名称 | ２次元分光法及び２次元分光装置 |
| 技術分野 | 情報・通信 |
| 機能 | 機械・部品の製造 |
| 適用製品 | ２次元分光法及び２次元分光装置 |
| 目的 | 高解像度及び高分解能を両立可能な２次元分光法及び２次元分光装置を提供する。 |
| 効果 | 高解像度及び高分解能を両立可能な２次元分光法及び２次元分光装置が提供される。 |
技術概要) |
相対的なチャープ量が異なる第１の光パルス列及び第２の光パルス列を生成する光パルス列生成工程と、
第１の光パルス列を、被測定物体の互いに異なる測定領域に照射する光パルス列照射工程と、 第１の光パルス列が被測定物体の測定領域のそれぞれに作用した後の複数の受光対象光パルス列のそれぞれと、第２の光パルス列とを干渉させて生成される干渉信号を計測する干渉信号計測工程と、 干渉信号から被測定物体の測定領域ごとの波長情報を取得する波長情報取得工程と、 を備え、 干渉信号計測工程において、 第２の光パルス列を２つに分け、一方の第２の光パルス列の位相を他方の第２の光パルス列に対して９０°ずらし、複数の受光対象光パルス列のそれぞれと一方の第２の光パルス列とを干渉させるとともに、複数の受光対象光パルス列のそれぞれと他方の第２の光パルス列とを干渉させ、生成されるそれぞれの干渉信号を取得し、 干渉信号は互いに異なり干渉縞周波数が最も低い波長を示す干渉縞を有し、 波長情報取得工程において、 干渉縞周波数が最も低い波長を被測定物体の測定領域ごとの波長情報として取得する、 ２次元分光法。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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