被写体の形態観察に用いる等高線画像生成方法,及びこれを用いる側弯症スクリーニングシステム
- 開放特許情報番号
- L2024000324
- 開放特許情報登録日
- 2024/2/19
- 最新更新日
- 2024/2/19
基本情報
出願番号 | 特願2012-155967 |
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出願日 | 2012/7/11 |
出願人 | 学校法人北里研究所 |
公開番号 | |
公開日 | 2014/1/30 |
登録番号 | |
特許権者 | 学校法人北里研究所 |
発明の名称 | 被写体の形態観察に用いる等高線画像生成方法,及びこれを用いる側弯症スクリーニングシステム |
技術分野 | 食品・バイオ、化学・薬品 |
機能 | 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア |
適用製品 | 等高線画像生成方法,側弯症スクリーニングシステム |
目的 | 汎用のデジタルカメラやスマートフォンを含む少なくともカメラ機能を有する端末機器により撮影された画像から、簡易に被写体の形態観察に用いる等高線画像を生成する方法,及びこれを用いた側弯症スクリーニングシステムを提供する。 |
効果 | 簡易な装置構成及び省力化して物体の形状観察あるいは,側弯症スクリーニングシステムを実現することが可能である。 |
技術概要![]() |
側弯症判定を行うための等高線画像生成方法であって、
被験者の背面画像を撮影し、デジタル画像を出力する工程と、 前記撮影されたデジタル画像から画素毎に輝度信号を抽出する工程と、 前記抽出された輝度信号を所定の閾値基準で量子化した量子化画像を生成する工程と、 前記量子化された画像における量子化レベル毎に、同じ量子化レベルの画素を繋いだ画像に変換する工程と、 前記同じ量子化レベルの画素を繋いだ画像をディスプレイに表示して、前記被験者の背面における高度の偏位を観察可能にする工程を有し、 予め先端と後端の奥行きが所定の間隔を有する様にテスト板を斜めに配置して撮像し、撮像される前記テスト板の前記先端と後端の輝度値を取得し、取得された輝度値を所定数で等分して得られる値を前記量子化の際の前記所定の閾値基準とする、 ことを特徴とする側弯症判定を行うための等高線画像生成方法。 |
実施実績 | 【無】 |
許諾実績 | 【無】 |
特許権譲渡 | 【否】 |
特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
登録者名称 | 学校法人北里研究所 |
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その他の情報
関連特許 |
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