分析装置

開放特許情報番号
L2024000315
開放特許情報登録日
2024/2/16
最新更新日
2024/2/16

基本情報

出願番号 特願2021-078624
出願日 2021/5/6
出願人 国立大学法人 筑波大学
公開番号 特開2022-172633
公開日 2022/11/17
発明の名称 分析装置
技術分野 情報・通信、食品・バイオ
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 分析装置
目的 超音波放射力を利用して、測定対象物である粒子の密度などの特性を高感度でかつ精度よく測定することができる分析装置を提供する。
効果 超音波放射力を利用して、測定対象物である粒子の密度などの特性を高感度でかつ精度よく測定することができる分析装置を提供することが可能となる。
技術概要
複数個の粒子が超音波放射力を受けることによって離脱可能に保持される試料保持面を有する基板と、
前記粒子に超音波放射力を付与する超音波トランスデューサーと、
前記超音波トランスデューサーに印加する電気信号の電圧値を調整する電圧調整器と、
前記粒子が超音波放射力を受けることによって前記基板の前記試料保持面から離脱したときの前記粒子に付与した超音波放射力もしくは前記超音波トランスデューサーに印加した電気信号の電圧値を出力する出力部と、を備える、分析装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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