デュアルコム分光法における干渉信号の測定方法

開放特許情報番号

L2024000298

開放特許情報登録日

2024/2/16

最新更新日

2024/2/16

基本情報

出願番号	特願2018-247417
出願日	2018/12/28
出願人	国立大学法人電気通信大学
公開番号	特開2020-106477
公開日	2020/7/9
登録番号	特許第7128516号
特許権者	国立大学法人電気通信大学
発明の名称	デュアルコム分光法における干渉信号の測定方法
技術分野	情報・通信
機能	制御・ソフトウェア
適用製品	デュアルコム分光法における干渉信号の測定方法
目的	測定対象の試料を通過して変化する光周波数コムの各周波数モードの位相情報を正確に測定可能であって、試料の移動が不要で、高速に測定可能なデュアルコム分光法における干渉信号の測定方法を提供する。
効果	測定対象の試料を通過して変化する光周波数コムの各周波数モードの位相情報を正確に測定可能であって、試料の移動が不要で、高速に測定可能なデュアルコム分光法における干渉信号の測定方法が提供される。
技術概要	通過幅が試料の被測定部の幅方向における測定幅より大きい通過幅調節済単一第１光周波数コムの進路上の試料配置位置で、通過幅調節済単一第１光周波数コムが通過する領域の一部に被測定部を配置する第１工程と、 被測定部を通過していない通過幅調節済単一第１光周波数コムと被測定部から出射した通過幅調節済単一第１光周波数コムとを一括して受光する第２工程と、 通過幅調節済単一第１光周波数コムのうち被測定部を通過していない通過幅調節済単一第１光周波数コムと第２の光周波数コムとの第１の干渉信号を生成し、被測定部を通過した通過幅調節済単一第１光周波数コムと第２の光周波数コムとの第２の干渉信号を生成する第３工程と、 通過幅調節済単一第１光周波数コムのうち被測定部を通過していない通過幅調節済単一第１光周波数コムの光パルスの時間軸上の位置を参照位置とし、被測定部を通過した通過幅調節済単一第１光周波数コムの光パルスの時間軸上の位置を測定対象位置とし、第１及び第２の干渉信号に基づいて参照位置に対する測定対象位置の情報を取得する第４工程と、 を備えるデュアルコム分光法における干渉信号の測定方法。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	株式会社キャンパスクリエイト

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】