距離測定装置
- 開放特許情報番号
- L2024000248
- 開放特許情報登録日
- 2024/2/9
- 最新更新日
- 2024/2/9
基本情報
出願番号 | 特願2020-182381 |
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出願日 | 2014/8/27 |
出願人 | 国立大学法人電気通信大学 |
公開番号 | |
公開日 | 2021/2/18 |
登録番号 | |
特許権者 | 国立大学法人電気通信大学 |
発明の名称 | 距離測定装置 |
技術分野 | 情報・通信 |
機能 | 機械・部品の製造 |
適用製品 | 光周波数コムを利用した距離測定技術 |
目的 | 光路長の可変範囲を拡張して任意の距離で高精度かつ安定した測定を可能にする距離測定技術を提供する。 |
効果 | 光路長の可変範囲を拡張し、任意の距離で高精度かつ安定した距離測定が可能になる。 |
技術概要 |
周波数領域で一定間隔の縦モードを発生させるパルス光源と、
パルス光源の繰り返し周波数を変化させる周波数制御部と、 パルス光源から出力されるパルス光を基準光と測定光に分割するスプリッタと、 基準光と、測定対象物の測定面で反射された測定光とを検出する光検出器と、 光検出器の出力から、測定面までの距離を算出する信号処理部と、 基準光を反射させる基準面と、 を有し、 光検出器は、基準面で反射された第1パルス光と、測定面で反射された第2パルス光を同時に検出し、 周波数制御部は、第1パルス光と第2パルス光の干渉が観察される位置へパルス光源の繰り返し周波数を変化させ、 信号処理部は、繰り返し周波数を変えたときの基準光と測定光の位相差のデータを取得して、位相差を繰り返し周波数の変化量の関数で表したときの係数を最適化し、繰り返し周波数の変化量と位相差の変化量の相関関係に基づいて互いに干渉する第1パルス光と第2パルス光の間のパルス数を算出し、光路長差におけるパルス数に基づいて、測定面までの距離を算出することを特徴とする距離測定装置。 |
実施実績 | 【無】 |
許諾実績 | 【無】 |
特許権譲渡 | 【否】 |
特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
登録者名称 | |
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その他の情報
関連特許 |
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