光検出装置、光検出方法およびプログラム

開放特許情報番号

L2024000142

開放特許情報登録日

2024/3/22

最新更新日

2024/3/22

基本情報

出願番号	特願2016-504052
出願日	2015/2/10
出願人	国立大学法人東京農工大学
公開番号	WO2015/125665
公開日	2015/8/27
登録番号	特許第6380941号
特許権者	国立大学法人東京農工大学
発明の名称	光検出装置、光検出方法およびプログラム
技術分野	情報・通信
機能	制御・ソフトウェア、機械・部品の製造
適用製品	光検出装置、光検出方法およびプログラム
目的	電気的な処理による位相敏感検出機構を確立し、簡易な構成で、微弱光を高速、高感度に検出可能な光検出装置、光検出方法およびプログラムを提供する。
効果	簡易な構成で、微弱光を高速、高感度に検出可能な光検出装置、光検出方法およびプログラムを提供することが可能となる。
技術概要	電気的な処理による位相敏感検出機構を確立し、簡易な構成で、微弱光を高速、高感度に検出可能な光検出装置、光検出方法およびプログラムを提供する。 第１パルス光を発生する光源部、第１パルス光が示す周波数スペクトルの一部から成る第２パルス光を透過し第１パルス光が示す周波数スペクトルの他部から成る第３パルス光を反射するフィルタ部、第２パルス光に対して複数の位相で位相変調する位相変調部、第３パルス光と位相変調部で位相変調された第２パルス光とを合波して第４パルス光とする合波部、および第４パルス光が対象物に照射されて発生した散乱光を分光して検出する検出部を含む光検出装置において、検出部で検出された散乱光の周波数スペクトルから位相変調部で位相変調された第２パルス光に基づいて散乱した散乱光の周波数スペクトルを所定の演算処理により位相変調部における位相変調と同期させて抽出する。
実施実績	【有】
許諾実績	【有】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	国立大学法人東京農工大学

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】