過渡吸収測定装置、および、測定方法

開放特許情報番号

L2023001784

開放特許情報登録日

2023/12/27

最新更新日

2023/12/27

基本情報

出願番号	特願2022-007803
出願日	2022/1/21
出願人	国立大学法人埼玉大学
公開番号	特開2023-106835
公開日	2023/8/2
発明の名称	過渡吸収測定装置、および、測定方法
技術分野	情報・通信
機能	機械・部品の製造
適用製品	過渡吸収測定装置および測定方法
目的	少量かつ低濃度の試料であっても、励起光パルスの照射回数を低減しながら、数十から数百ナノ秒という高い時間分解能で、励起光照射タイミングの直後から広範囲にわたって過渡吸収を測定できる装置を提供する。
効果	少量かつ低濃度の試料であっても、励起光パルスの照射回数を低減しながら、数十から数百ナノ秒程度の比較的高い時間分解能で、励起光照射タイミングの直後から広範囲にわたって過渡吸収を測定できる。
技術概要	反射ミラーは、所定の光軸に沿って、試料を配置する領域を挟むように配置され、所定の反射率で光を反射し、残りの光を透過し、 励起光用光源は、領域に配置された試料に対して励起光パルスを照射し、 プローブ光用光源は、予め定めたパルス間隔でプローブ光パルス列を反射ミラーの一方に対して光軸に沿って照射することにより、プローブ光パルス列を構成するプローブ光パルスを光キャビティ内に順次入射させ、プローブ光パルスを光キャビティ内で繰り返し往復させ、 光検出器は、光キャビティ内で繰り返し往復するプローブ光パルスが反射ミラーに到達するたびに反射ミラーを透過する光の強度を時系列に検出し、 演算処理部は、一つのプローブ光パルスが光キャビティ内を繰り返し往復している間に光検出器が時系列に検出した光強度の減衰曲線から、一つのプローブ光パルスが照射された時点における試料のプローブ光パルスの通過一回あたりの吸光度の変化ΔAを算出し、この算出処理をプローブ光パルス列のそれぞれのプローブ光パルスについて行うことにより、プローブ光パルス列が照射されている間の試料の吸光度の変化ΔAの時間変化を求める過渡吸収測定装置。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	国立大学法人埼玉大学

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】