光パルス計測器、光パルス計測方法及び光パルス計測プログラム
- 開放特許情報番号
- L2023001778
- 開放特許情報登録日
- 2023/12/26
- 最新更新日
- 2023/12/26
基本情報
| 出願番号 | 特願2022-007380 |
|---|---|
| 出願日 | 2022/1/20 |
| 出願人 | 国立大学法人宇都宮大学 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2023/8/1 |
| 発明の名称 | 光パルス計測器、光パルス計測方法及び光パルス計測プログラム |
| 技術分野 | 情報・通信 |
| 機能 | 制御・ソフトウェア |
| 適用製品 | 光パルス計測器、光パルス計測方法及び光パルス計測プログラム |
| 目的 | 光パルスの測定に際して、測定対象の光パルス信号の所定の波長帯域を透過させた光パルス信号と、測定対象の光パルス信号を所定時間遅延させた光パルス信号とを合成する場合と比較して測定時間を短縮できる光パルス計測器、光パルス計測方法及び光パルス計測プログラムを提供する。 |
| 効果 | 光パルスの測定に際して、測定対象の光パルス信号の所定の波長帯域を透過させた光パルス信号と、測定対象の光パルス信号を所定時間遅延させた光パルス信号とを合成する場合と比較して測定時間を短縮できる光パルス計測器、光パルス計測方法及び光パルス計測プログラムを提供することができる。 |
技術概要) |
被測定光から分岐された第１被測定光の透過波長帯域を連続的に変更可能な波長可変フィルタと、
前記波長可変フィルタを通過した前記第１被測定光と、被測定光から分岐され、前記波長可変フィルタを通過していない第２被測定光とを入射し、前記第１被測定光と前記第２被測定光とが光学的に重なる領域の複数の位置において光のべき乗強度に基づいて得られる光電流を出力する複数個の光検出器を前記領域に沿ってアレイ状に配置してなる光検出部と、 前記波長可変フィルタで設定された前記透過波長帯域と前記領域の位置とに応じた前記光電流に基づいてスペクトログラムを生成する生成部と、 前記生成部が生成したスペクトログラムに基づいて前記被測定光の振幅及び位相を特定する特定部と、 を備える、光パルス計測器。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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