光検出構造、光検出器及び光検出方法

開放特許情報番号
L2023001454
開放特許情報登録日
2023/11/22
最新更新日
2023/11/22

基本情報

出願番号 特願2022-031960
出願日 2022/3/2
出願人 国立大学法人電気通信大学
公開番号 特開2023-127959
公開日 2023/9/14
発明の名称 光検出構造、光検出器及び光検出方法
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 光検出構造、光検出器及び光検出方法
目的 ショットキー障壁による電流検出時のSN比を改善可能な光検出構造、光検出器及び光検出方法を提供する。
効果 ショットキー障壁による電流検出時のSN比を改善することができる。
技術概要
入射光が照射可能に構成された光照射領域が配置された第1面と厚み方向で前記第1面とは反対側の第2面とを有する半導体基材と、
前記第2面に接して配置された、又は前記第1面と前記第2面との間の前記半導体基材の内部に配置された金属層と、
前記金属層に接続されている電極と、
を備え、
前記第1面と平行な方向において前記金属層が配置された金属配置領域は前記光照射領域よりも小さい、
光検出構造。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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