磁化測定装置、測定システム及びその測定方法
- 開放特許情報番号
- L2023000666
- 開放特許情報登録日
- 2023/6/14
- 最新更新日
- 2023/6/14
基本情報
出願番号 | 特願2020-139027 |
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出願日 | 2020/8/20 |
出願人 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 |
公開番号 | |
公開日 | 2021/3/11 |
発明の名称 | 磁化測定装置、測定システム及びその測定方法 |
技術分野 | 情報・通信 |
機能 | 機械・部品の製造 |
適用製品 | 磁化測定装置、測定システム及びその測定方法 |
目的 | 試料の磁化や磁化の面内分布を同時に一括して簡便に測定することができる小型の磁化測定装置を提供する。 |
効果 | 試料の磁化や磁化の面内分布を同時に一括して簡便に測定することができる小型の磁化測定装置が提供される。 |
技術概要![]() |
磁場コイル及び前記磁場コイルへの電流供給のオン、オフを行うスイッチを少なくとも有して構成されるパルス状の磁場を発生するパルス磁場発生手段と、
光源、直線偏光素子及びレンズを有して構成される光学系と、 前記光学系を介して撮像を行う撮像手段を有し、 前記パルス状の磁場が極大となるタイミングと前記撮像のタイミングを調整する同期手段を有する、磁化測定装置。 |
実施実績 | 【無】 |
許諾実績 | 【無】 |
特許権譲渡 | 【否】 |
特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
登録者名称 | |
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その他の情報
関連特許 |
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