Ｘ線分析装置
- 開放特許情報番号
- L2023000566
- 開放特許情報登録日
- 2023/6/5
- 最新更新日
- 2023/6/5
基本情報
| 出願番号 | 特願2021-040573 |
|---|---|
| 出願日 | 2021/3/12 |
| 出願人 | 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2022/9/26 |
| 発明の名称 | Ｘ線分析装置 |
| 技術分野 | 情報・通信 |
| 機能 | 機械・部品の製造 |
| 適用製品 | 試料に含まれる放射性同位体の分析に用いられるＸ線分析装置 |
| 目的 | 試料に含まれる放射性核種を１台の装置で分析できるようにする。 |
| 効果 | 長半減期核種であるウランおよびネプツニウムの分析に有用な蛍光Ｘ線、短半減期核種であるアメリシウムの分析に有用な自発特性Ｘ線の測定を行うことができる。 |
技術概要) |
試料保持部と、
第１Ｘ線を発するＸ線源と、 前記Ｘ線源から発せられた前記第１Ｘ線を、前記試料保持部に保持された試料に入射させるための光学系と、 前記試料から放出される第２Ｘ線を検出するためのＸ線検出器と、 前記Ｘ線検出器が検出した前記第２Ｘ線のエネルギーとその強度との関係を表すエネルギースペクトルを生成するスペクトル生成部と、 前記試料保持部に保持された試料に前記第１Ｘ線を入射させた状態で前記Ｘ線検出器に前記第２Ｘ線を検出させる蛍光Ｘ線検出モードと、前記試料保持部に保持された試料に前記第１Ｘ線を入射させない状態で前記Ｘ線検出器に前記第２Ｘ線を検出させる自発特性Ｘ線検出モードとを選択的に実行する、検出制御部と を備える、Ｘ線分析装置。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
|---|---|
その他の情報
| 関連特許 |
|
|---|