色度座標上での定量解析による定量分析方法及び定量分析装置

開放特許情報番号
L2023000349
開放特許情報登録日
2023/4/24
最新更新日
2023/4/24

基本情報

出願番号 特願2021-016072
出願日 2021/2/3
出願人 学校法人東京電機大学
公開番号 特開2022-119081
公開日 2022/8/16
発明の名称 色度座標上での定量解析による定量分析方法及び定量分析装置
技術分野 情報・通信、化学・薬品
機能 機械・部品の製造
適用製品 色度座標上での定量解析による定量分析方法及び定量分析装置
目的 物質の含有量に応じて変化する材料の色を、CIEXYZ系又はCIExy座標上などの加法混色できる場において、それぞれの色に対応する色度点から定量的に見積もる方法を見いだし、その物質を簡便で定量分析方法を提供する。
効果 物質を簡便で高速な定量分析することができる、色度座標上での定量解析による定量分析方法及び定量分析装置を提供することができる。
技術概要
物質(T)との相互作用によって呈色する分析材料(A)を用いて、物質(T)の含有量を分析する定量分析方法であって、工程1〜工程6を含む定量分析方法。
工程1:
物質(T)の第1含有量のよって、分析材料(A)を第1呈色と、
物質(T)の第2含有量のよって、分析材料(A)を第2呈色と、
物質(T)の測定対象サンプルによって、分析材料(A)を第3呈色と、する工程;
工程2:
第1呈色、第2呈色、第3呈色を、それぞれCIEXYZ表色系の3次元色座標上の第1色度点、第2色度点、第3色度点に変換する工程;
工程3:
3次元色座標の原点から第1色度点、第2色度点及び第3色度点を終点とする第1ベクトル、第2ベクトルおよび第3ベクトルに変換する工程;
工程4:
3次元色座標におけるX+Y+Z=1の平面と、第1ベクトルとの交点を第1交点と、第2ベクトルとの交点を第2交点と、第3ベクトルとの交点を第3交点とする工程;
工程5:
第1交点と第2交点とを結んだ直線を物質(T)の含有量の計測スケールとする工程;
工程6:
計測スケールにおける第3交点の位置によって、測定対象サンプルの物質(T)の含有量を算出する工程。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 東京電機大学

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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