動的光散乱測定装置、動的光散乱測定・解析方法、および、測定・解析プログラム

開放特許情報番号

L2023000245

開放特許情報登録日

2023/3/31

最新更新日

2024/5/28

基本情報

出願番号	特願2020-188450
出願日	2020/11/12
出願人	国立研究開発法人物質・材料研究機構
公開番号	特開2022-077588
公開日	2022/5/24
登録番号	特許第7473200号
特許権者	国立研究開発法人物質・材料研究機構
発明の名称	動的光散乱測定装置、動的光散乱測定・解析方法、および、測定・解析プログラム
技術分野	情報・通信
機能	機械・部品の製造
適用製品	動的光散乱測定装置、動的光散乱測定・解析方法、および、測定・解析プログラム
目的	液体試料中の任意の粒子の粒径および／または粒径分布を、動的光散乱法を用いて汚染物質の影響を排除し、１回の計測で正しく測定する動的光散乱測定装置、その測定・解析方法、および、その測定・解析プログラムを提供する。
効果	情報処理装置は、すべての散乱光子の情報である光子到達時間リストを作成後に処理を行うため、測定後の処理時に相関関数の適切な時間幅に基づいた正確な粒径および／または粒径分布の測定を可能とする。さらに、ノイズ成分を有する場合には、ノイズ成分が除去された光子到達時間リストが作成される。ノイズ成分を有しない正確な光子到達時間リストを用いて時間相関関数が演算され、正確な粒径および／または粒径分布を測定できる。
技術概要	粒子を含有する液体試料中の前記粒子の粒径および／または粒径分布を動的光散乱法により測定する装置であって、 連続発振レーザ光を発し、前記液体試料に照射する光源と、 前記液体試料からの散乱光子の到達時間を検出し、電気パルスを生成する光子検出装置と、 前記電気パルスの到達時間を収集し、光子到達時間リストを生成するデータ収集装置と、 前記光子到達時間リストを処理する情報処理装置と を備え、 前記情報処理装置は、 前記光子到達時間リストを用いて時間相関関数を演算する時間相関関数演算処理部と、 前記演算された時間相関関数を用いて前記光子到達時間リストが前記粒子からの散乱光子以外のノイズ成分を含むか否かを判定するノイズ判定部と、 前記ノイズ判定部が、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含まないと判定するまで、前記光子到達時間リストから前記ノイズ成分を除去するノイズ除去部と、 前記演算された時間相関関数を用いて前記粒子の粒径および／または粒径分布を演算する粒径演算部と をさらに備える、動的光散乱測定装置。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	国立研究開発法人物質・材料研究機構

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】