粒子測定装置、粒子測定方法およびプログラム
- 開放特許情報番号
- L2022002008
- 開放特許情報登録日
- 2022/12/13
- 最新更新日
- 2022/12/13
基本情報
出願番号 | 特願2020-177428 |
---|---|
出願日 | 2020/10/22 |
出願人 | 国立研究開発法人理化学研究所 |
公開番号 | |
公開日 | 2022/5/10 |
発明の名称 | 粒子測定装置、粒子測定方法およびプログラム |
技術分野 | 情報・通信 |
機能 | 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア |
適用製品 | 粒子測定装置、粒子測定方法およびプログラム |
目的 | 従来よりも高機能な粒子測定装置を提供する。 |
効果 | 従来よりも高機能な粒子測定装置を提供することができる。 |
技術概要![]() |
シート状のレーザ光を照射する照射部と、
前記レーザ光の照射位置を移動させる走査光学系と、 受光光学系および撮像素子を含み、粒子による前記レーザ光の散乱光を撮影する撮像部と、 前記撮像部によって撮影した画像から、粒子の位置および速度を求める算出部と、 を備える、粒子測定装置。 |
実施実績 | 【無】 |
許諾実績 | 【無】 |
特許権譲渡 | 【否】 |
特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
登録者名称 | |
---|---|
その他の情報
関連特許 |
|
---|