粒子測定装置、粒子測定方法およびプログラム

開放特許情報番号
L2022002008
開放特許情報登録日
2022/12/13
最新更新日
2022/12/13

基本情報

出願番号 特願2020-177428
出願日 2020/10/22
出願人 国立研究開発法人理化学研究所
公開番号 特開2022-068641
公開日 2022/5/10
発明の名称 粒子測定装置、粒子測定方法およびプログラム
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 粒子測定装置、粒子測定方法およびプログラム
目的 従来よりも高機能な粒子測定装置を提供する。
効果 従来よりも高機能な粒子測定装置を提供することができる。
技術概要
シート状のレーザ光を照射する照射部と、
前記レーザ光の照射位置を移動させる走査光学系と、
受光光学系および撮像素子を含み、粒子による前記レーザ光の散乱光を撮影する撮像部と、
前記撮像部によって撮影した画像から、粒子の位置および速度を求める算出部と、
を備える、粒子測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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