| 出願番号 |
特願2020-038172 |
| 出願日 |
2020/3/5 |
| 出願人 |
国立大学法人 筑波大学 |
| 公開番号 |
特開2021-139769 |
| 公開日 |
2021/9/16 |
| 登録番号 |
特許第7444439号 |
| 特許権者 |
国立大学法人 筑波大学 |
| 発明の名称 |
欠陥検出分類システム及び欠陥判定トレーニングシステム |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
欠陥検出分類システム及び欠陥判定トレーニングシステム |
| 目的 |
検査の対象となる製品などに欠陥の有無と欠陥の種類とを判定できる欠陥検出分類システムと、欠陥検出分類システムを利用した欠陥判定トレーニングシステムとを提供する。 |
| 効果 |
検査の対象となる製品などに欠陥の有無と欠陥の種類とを判定することができる。 |
技術概要
 |
欠陥の有無が判定される対象を撮像して得られる画像を取得する取得部と、
前記画像に予め定められた複数の種類の欠陥のうち少なくとも一つの欠陥があるか否かを判定して欠陥がある場合に欠陥の位置及び欠陥の種類を出力する学習済みの判定モデルを含み、前記判定モデルに前記画像を入力として与えて前記対象における欠陥の有無、位置及び種類を出力する検出分類部を備え、
前記判定モデルは、前記複数の種類の欠陥のうち少なくとも一つの欠陥を含む対象の学習画像と前記学習画像に含まれる欠陥の位置及び欠陥の種類を示すラベルとを含む複数の学習データを用いて、前記複数の種類の欠陥を学習して得られる、
欠陥検出分類システム。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
)