オペランド計測を可能とした走査型イオンコンダクタンス顕微鏡

開放特許情報番号
L2022001776
開放特許情報登録日
2022/11/7
最新更新日
2022/11/7

基本情報

出願番号 特願2019-134048
出願日 2019/7/19
出願人 国立大学法人金沢大学
公開番号 特開2021-018147
公開日 2021/2/15
発明の名称 オペランド計測を可能とした走査型イオンコンダクタンス顕微鏡
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 2次電池材料,太陽電池材料,光触媒等の電気化学的材料の解析等に適した実動作下での計測を可能にした走査型イオンコンダクタンス顕微鏡
目的 試料の実動作環境下において試料表面の形状とイオンの濃度プロファイルの可視化を可能にしたオペランド計測型の走査型イオンコンダクタンス顕微鏡の提供。
効果 試料の実動作下での試料表面の形状の計測やイオンの濃度プロファイルの可視化が可能になることから、電気化学材料の構造の解明や最適化に向けての開発に寄与できることが期待される。
技術概要
試料の電気化学的な動作条件を制御及び計測するためのポテンシオスタットと、試料表面の形状又は/及びイオン濃度プロファイルを計測するための走査型イオンコンダクタンス顕微鏡とを備えたことを特徴とするオペランド計測を可能とした走査型コンダクタンス顕微鏡。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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