目的
目視により変調度を直接読み取ることなく、応答波形の形状を特定して撮像系の解像度特性を測定することが可能な解像度特性測定装置およびそのプログラムを提供する。
効果
撮像した画素値の変化を正弦波で近似することで、目視により変調度を直接読み取ることなく、撮像系の解像度特性を測定することができる。測定者による測定結果のばらつきをなくし、精度よく、かつ、効率的に、撮像系の解像度特性を測定することができる。
技術概要
白黒の周期を有する矩形波パターン領域、白領域および黒領域を含んだ測定用チャートを撮像系で撮像したチャート画像から、前記撮像系の解像度特性を測定する解像度特性測定装置であって、
前記チャート画像の前記矩形波パターン領域におけるパターン方向のラインデータの画素値の変化を正弦波で近似する正弦波近似手段と、
前記チャート画像の白領域で特定される白レベルの画素値と、前記チャート画像の黒領域で特定される黒レベルの画素値と、前記正弦波近似手段で正弦波に近似された応答波形の振幅とに基づいて、前記解像度特性であるＣＴＦ値を算出する解像度特性値算出手段と、
を備えることを特徴とする解像度特性測定装置。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
