| 出願番号 |
特願2017-233900 |
| 出願日 |
2017/12/6 |
| 出願人 |
日本放送協会 |
| 公開番号 |
特開2019-100932 |
| 公開日 |
2019/6/24 |
| 登録番号 |
特許第7133307号 |
| 特許権者 |
日本放送協会 |
| 発明の名称 |
光偏向素子の性能評価装置 |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
機械・部品の製造 |
| 適用製品 |
光偏向素子の性能評価装置 |
| 目的 |
マルチ光導波路を用いた光フェーズドアレイを有する光偏向素子における各光導波路の初期位相と電気光学定数を直接的に測定できる光偏向素子の性能評価装置を提供する。 |
| 効果 |
マルチ光導波路を用いた光フェーズドアレイを有する光偏向素子における各光導波路の初期位相と電気光学定数を直接的に測定できる光偏向素子の性能評価装置を提供することができる。 |
技術概要
 |
性能評価装置は、レーザ光を偏光する偏光子と、偏光子に接続される光偏向素子の光入射端にニアフィールドで光学的に結合される光出射端を有する第１光ファイバと、光偏向素子の光出射端にニアフィールドで光学的に結合される光入射端を有する第２光ファイバと、第２光ファイバからレーザ光が入射される波長板と、偏光子とクロスニコルの関係で波長板の出力側に配置される検光子と、検光子の出射光に含まれる、光導波路で付与された位相差を相殺する位相補償器と、位相補償器の出射光を検出する光検出部と、光検出部の検出光の出力を検出する出力検出部と、光導波路に印加する電圧を制御する制御部と、電圧の印加による光導波路におけるレーザ光の位相の変化量を演算する演算部とを含む。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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