結晶性材料の評価方法

開放特許情報番号
L2022001674
開放特許情報登録日
2022/10/25
最新更新日
2022/10/25

基本情報

出願番号 特願2021-021369
出願日 2021/2/15
出願人 国立大学法人金沢大学
公開番号 特開2022-123909
公開日 2022/8/25
発明の名称 結晶性材料の評価方法
技術分野 情報・通信
機能 検査・検出
適用製品 金属材料等の結晶性材料にX線等を照射して、この材料の結晶構造等によりX線が回折して形成される回折環に基づいて材料を評価する方法
目的 環境放射線等によるノイズが混在する環境下でも計測が可能な結晶性材料の評価方法の提供。
効果 対象物にX線を照射して得られる回折X線を検出する際に、環境放射線等によるノイズを差分法やフォトンカウンティング法を利用して除去できるので、結晶性材料評価の精度が向上する。
技術概要
対象物にX線を照射し、当該対象物にてX線が回折して形成される回折環を二次元検出器にて検出して解析する結晶性材料の評価方法であって、
前記X線を照射して得られた二次元検出器による回折X線データと、X線を照射しない状態で検出した二次元検出器による環境放射X線データとの差分にて、解析することを特徴とする結晶性材料の評価方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2022 INPIT