応力およびひずみ量分布表示方法、装置およびプログラム

開放特許情報番号
L2022001598
開放特許情報登録日
2022/10/5
最新更新日
2022/10/25

基本情報

出願番号 特願2021-528233
出願日 2020/6/15
出願人 国立研究開発法人科学技術振興機構
公開番号 WO2020/262087
公開日 2020/12/30
発明の名称 応力およびひずみ量分布表示方法、装置およびプログラム
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 応力およびひずみ量の分布を表示する方法、装置およびプログラム
目的 材料に負荷と除荷を繰り返すことにより発生する局所的な応力やひずみ量の分布を表示する方法を提供する。
効果 材料に負荷と除荷を繰り返すことにより発生する局所的な応力やひずみ量の分布を表示することができる。
技術概要
試料に負荷と除荷を繰り返しながら試料表面のひずみ量分布を表示する方法であって、
負荷前および除荷後の試料表面の画像を撮影するステップと、
負荷前の画像と除荷後の画像との間の相関に基づき画素位置ごとのひずみ量を計測するステップと、
計測されたひずみ量の分布を各画素位置に表示するステップと
を備える方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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