核磁気共鳴イメージ装置および核磁気共鳴イメージ方法
- 開放特許情報番号
- L2022001510
- 開放特許情報登録日
- 2022/9/21
- 最新更新日
- 2022/9/21
基本情報
| 出願番号 | 特願2013-550279 |
|---|---|
| 出願日 | 2012/12/18 |
| 出願人 | 国立研究開発法人科学技術振興機構 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2013/6/27 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | 国立研究開発法人科学技術振興機構 |
| 発明の名称 | 核磁気共鳴イメージ装置および核磁気共鳴イメージ方法 |
| 技術分野 | 情報・通信、化学・薬品 |
| 機能 | 機械・部品の製造 |
| 適用製品 | 核磁気共鳴イメージ装置および核磁気共鳴イメージ方法 |
| 目的 | Ｔ↓２↑Ｈでは区別ができないものの区別が可能な核磁気共鳴イメージ装置を提供する。 |
| 効果 | Ｔ↓２↑Ｈでは区別ができないものの区別が可能な核磁気共鳴イメージ装置を提供することができる。 |
技術概要) |
静的な勾配磁場中に試料を収納可能なプローブと、
前記試料の所定の位置における前記静的な勾配磁場に対応したラーモア周波数のπパルスを所定の時間間隔で前記試料に多重に印加する印加部と、 前記試料の多重パルス印加時の核磁気共鳴（ＮＭＲ）信号の収束した減衰特性から横緩和時間を求めそのイメージングを行う画像処理部と、を有し、 前記ＮＭＲ信号と前記横緩和時間は、以下の式（１）に示す関係を有し、 前記πパルスの時間間隔と前記試料が外部環境から受ける雑音の周波数は以下の式（２）で表され、前記式（１）によって求められた横緩和時間が前記πパルスの時間間隔と前記式（２）の関係を持つ周波数に対応する前記雑音の大きさを表していることを利用して、前記πパルスの所定の時間間隔２τを前記式（２）の核スピンが受ける雑音の周波数ｆから求め、このπパルス間隔２τで前記ＮＭＲ信号を測定し、前記ＮＭＲ信号の測定結果に基づいて前記ＮＭＲ信号の強度の減衰曲線を求め、前記式（１）から前記横緩和時間（Ｔ↓２↑Ｌ）を求めるように構成したことを特徴とする核磁気共鳴イメージ装置。 【数１】 |
| イメージ図 | |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
)
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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