光学顕微鏡及び試料基板ホルダ

開放特許情報番号
L2022000916
開放特許情報登録日
2022/6/15
最新更新日
2022/6/15

基本情報

出願番号 PCT/JP2021/016047
出願日 2021/4/20
出願人 国立大学法人東京工業大学
公開番号 WO2021/215438
公開日 2021/10/28
発明の名称 光学顕微鏡及び試料基板ホルダ
技術分野 情報・通信
機能 検査・検出、機械・部品の製造
適用製品 光学顕微鏡及び試料基板ホルダ
目的 試料の歪みの少ない画像を取得可能な光学顕微鏡を提供する。
効果 試料を歪みの少ない画像を取得することができる。
技術概要
試料に入射する照射光を出射する光源と、
試料が載置される載置面を有する試料基板と、
載置面に載置された試料に照射光を照射すると共に、照射光が照射された試料から検出光が入射する第1光学素子と、
試料を覆う凹部が形成され、第1光学素子から入射する照射光を試料に出射すると共に、試料から入射する検出光を第1光学素子に出射する第2光学素子と、
第1光学素子から出射する検出光により形成される試料の画像を撮像する撮像装置と、を有し、
第2光学素子は、
球面状の形状を有し、第1光学素子から照射光が入射すると共に、検出光を第1光学素子に出射する第1入出射面と、
凹部の壁部の少なくとも一部を含み、第1入出射面に入射する照射光を試料に出射すると共に、試料から入射する検出光を前記第1入出射面に出射する第2入出射面と、を有し、
凹部と載置面により形成される空間は、液体が充填可能である、ことを特徴とする光学顕微鏡。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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