光学特性測定装置及び光学特性測定方法

開放特許情報番号
L2022000695
開放特許情報登録日
2022/5/11
最新更新日
2022/5/11

基本情報

出願番号 特願2018-534436
出願日 2017/8/18
出願人 国立大学法人 香川大学
公開番号 WO2018/034343
公開日 2018/2/22
登録番号 特許第6853584号
特許権者 国立大学法人 香川大学
発明の名称 光学特性測定装置及び光学特性測定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 光学特性測定装置及び光学特性測定方法
目的 試料に光を照射することにより該試料内を通過した光を検出する光学特性測定装置及び方法において、その光が試料内を通過した距離を一定にする。
効果 光源からの光を試験試料に照射することにより該試験試料内を通過して、該試験試料の表面から出射される光の試料内の通過距離、つまり光路長を一定にすることができる。また、試験試料が液体状であるときに該試験試料が収容される試料セルの収容空間の大きさや、試験試料が固体状であるときの該試験試料の大きさに関係なく、試験試料内を通過して該試験試料の表面から出射される光の光路長を一定にすることができる。
技術概要
試験試料に光を照射する光源と、
前記試験試料の表面のうち前記光源からの光が入射する領域から所定の距離だけ内側に節が位置する、前記領域に垂直な音響定在波を前記試料中に形成する定在波形成器と、
前記領域に対して前記光源と同じ側に配置された、前記試験試料の表面から出射された光を検出する検出器と、
前記光源からの光が前記試験試料に照射されたときの前記検出器の検出結果に基づき、前記試験試料の光学特性を求める光学特性算出器と
を備える光学特性測定装置。
実施実績 【有】   
許諾実績 【有】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【有】   
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