分光特性測定装置及び分光特性測定方法

開放特許情報番号

L2022000612

開放特許情報登録日

2022/4/25

最新更新日

2022/4/25

基本情報

出願番号	特願2014-502333
出願日	2013/2/27
出願人	国立大学法人　香川大学
公開番号	WO2013/129519
公開日	2013/9/6
登録番号	特許第5637488号
特許権者	国立大学法人　香川大学
発明の名称	分光特性測定装置及び分光特性測定方法
技術分野	情報・通信
機能	機械・部品の製造、検査・検出
適用製品	分光特性測定装置及び分光特性測定方法
目的	外乱の影響を抑えて測定対象の分光特性をを高精度に測定することができる分光特性測定装置及び分光特性測定方法を提供する。
効果	測定光と同様に参照光を入射光学系によって固定反射部と可動反射部に入射させ、これらの反射部によって２つの反射光に分割して干渉光を形成させ、この干渉光強度変化の振幅と位相差に基づき測定光のインターフェログラムを補正するようにしたため、測定光の分光特性を精度良く求めることができる。
技術概要	固定反射部及び可動反射部と、 測定対象から発せられた測定光を固定反射部と可動反射部に入射させる入射光学系と、 固定反射部によって反射された測定光と可動反射部によって反射された測定光の干渉光を形成する結像光学系と、 測定光の干渉光強度を検出する測定光検出部と、 可動反射部を移動させることにより得られる測定光の干渉光強度変化に基づき測定光のインターフェログラムを求める処理部と、 測定光の波長帯域の一部である狭帯域の波長の参照光を、入射光学系を通して固定反射部と可動反射部に入射させる参照光入射手段と、 固定反射部によって反射された参照光と可動反射部によって反射された参照光の、結像光学系によって形成される干渉光強度を検出する参照光検出部と、 可動反射部を移動させることにより参照光検出部で検出される参照光の干渉光強度変化の振幅、及び測定光のうち参照光と同じ波長の測定光と参照光の位相差に基づき測定光のインターフェログラムを補正し、補正後のインターフェログラムに基づき測定光のスペクトルを求める演算処理部と を備えることを特徴とする分光特性測定装置。
実施実績	【有】
許諾実績	【有】
特許権譲渡	【可】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	国立大学法人香川大学

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【有】