分光特性測定装置
- 開放特許情報番号
- L2022000611
- 開放特許情報登録日
- 2022/4/25
- 最新更新日
- 2022/4/25
基本情報
| 出願番号 | 特願2015-015733 |
|---|---|
| 出願日 | 2015/1/29 |
| 出願人 | 国立大学法人 香川大学 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2016/8/8 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | 国立大学法人 香川大学 |
| 発明の名称 | 分光特性測定装置 |
| 技術分野 | 情報・通信 |
| 機能 | 機械・部品の製造 |
| 適用製品 | 分光特性測定装置 |
| 目的 | 鮮明なインターフェログラムを取得可能な分光特性測定装置を提供する。 |
| 効果 | どのような試料からでも干渉光を得ることができ、鮮明なインターフェログラムを取得することができる。分光特性測定装置の構成を簡単に設計することができる。 |
技術概要) |
被測定物の測定領域内に位置する複数の測定点からそれぞれ発せられた測定光を第１の測定光及び第２の測定光に分割する分割光学系と、
第１の測定光及び前記第２の測定光の間に連続的な光路長差分布を付与する光路長差付与手段と、 連続的な光路長差分布が付与された第１の測定光及び第２の測定光を結像面上で干渉させて干渉光を形成する結像光学系と、 結像面に配置された干渉光の光強度を検出する検出部であって、直線上に等間隔で配置された複数の画素を有する干渉光検出部と、 干渉光検出部で検出された干渉光の光強度に基づき、被測定物の測定点のインターフェログラムを求め、このインターフェログラムをフーリエ変換することによりスペクトルを取得する処理部と、 被測定物の測定領域と分割光学系の間に配置された、分割光学系と共通の共役面を有するとともに、共役面に測定点からの測定光を結像する共役面結像光学系と、 共役面に配置された、周期的に並ぶ透光部と遮光部とを有する振幅型回折格子と を備える分光特性測定装置。 |
| 実施実績 | 【有】 |
| 許諾実績 | 【有】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
|---|---|
その他の情報
| 関連特許 |
|
|---|