光学特性測定装置及び光学特性測定方法
- 開放特許情報番号
- L2022000609
- 開放特許情報登録日
- 2022/4/25
- 最新更新日
- 2022/4/25
基本情報
| 出願番号 | 特願2013-502369 |
|---|---|
| 出願日 | 2012/2/28 |
| 出願人 | 国立大学法人 香川大学 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2012/9/7 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | 国立大学法人 香川大学 |
| 発明の名称 | 光学特性測定装置及び光学特性測定方法 |
| 技術分野 | 情報・通信 |
| 機能 | 機械・部品の製造、検査・検出 |
| 適用製品 | 光学特性測定装置及び方法 |
| 目的 | 様々な形状や性質の物質のフーリエ分光特性と複屈折性を同時に測定することができる光学特性測定装置および光学特性測定方法を提供する。 |
| 効果 | 被測定物のフーリエ分光特性と複屈折性を同時に求めることができる。
従って、光学素子、高分子フィルムといった比較的形状が単純な製品はもちろん、形状が複雑な物質、及び眼の網膜といった生体膜も被測定物となりうるため、幅広い分野で利用できる。 |
技術概要) |
a)直線偏光が入射された被測定物から発せられる光を第１偏光板及び第２偏光板に導く分割光学系と、
b)前記第１偏光板を透過した第１偏光成分と前記第２偏光板を透過した第２偏光成分の合成成分のうち、所定の偏光方向の光を透過させる検光子と、 c)前記検光子を透過した光を同一点に導き干渉像を形成する結像光学系と、 d)前記干渉像の光強度を検出する検出部と、 e)前記第１偏光板及び第２偏光板から前記検光子に向かう第１偏光成分及び第２偏光成分の光路長の差を変化させることにより当該第１偏光成分と第２偏光成分の間の位相差を変化させる位相差付与手段と、 f)前記位相差の変化に伴い前記検出部で検出される光強度の変化のデータをフーリエ変換することにより前記被測定物から発せられる光の波長毎の振幅と複屈折位相差を取得する処理部と を備え、 前記第１偏光成分と前記第２偏光成分の偏光方向が直交し、且つ前記被測定物に入射する直線偏光の電界成分に対して前記第１偏光成分と前記第２偏光成分の偏光方向が４５°傾くように、前記第１偏光板及び前記第２偏光板が配置されていることを特徴とする光学特性測定装置。 |
| 実施実績 | 【有】 |
| 許諾実績 | 【有】 |
| 特許権譲渡 | 【可】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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