非接触測定システム

開放特許情報番号
L2022000397
開放特許情報登録日
2022/7/8
最新更新日
2022/7/8

基本情報

出願番号 特願2018-135373
出願日 2018/7/18
出願人 島根県、国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2020-012740
公開日 2020/1/23
登録番号 特許第7093924号
特許権者 島根県、国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 非接触測定システム
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 非接触測定システム
目的 測定の目的、測定対象物の観測パラメータに応じた適切な測定周波数を設定することにより高感度および高精度な測定が可能な非接触測定システムを提供する。
効果 測定対象物の濃度の値など定量的な評価を高感度かつ高精度に行うことができる。
技術概要
測定対象物を収容した被測定物用容器と、
測定対象物とは接触せずに被測定物用容器の近傍に接触状態または非接触状態で配置された静電容量型センサと、
静電容量型センサと接続され、静電容量型センサに所定の測定周波数で交流電圧を印加することにより静電容量値を測定する測定装置とを備えた非接触測定システムであって、
測定装置は、被測定物用容器に既知の濃度の溶液を収容して行われた予備測定において取得された静電容量値を記憶する記憶部と、
被測定物用容器に収容された未知の濃度の溶液に対して測定周波数の交流電圧を印加して静電容量値を取得する測定部と、
記憶部に記憶された静電容量値と、未知の濃度の溶液から取得された静電容量値との差分を算出し、算出された差分が許容範囲内であるかを判定する制御部と、
制御部によって差分が許容範囲にないと判定された場合、警告を行う警告部と、を備え、
測定対象物の観測パラメータの値の領域に応じて測定周波数を設定することを特徴とする非接触測定システム。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2022 INPIT