偏光測定装置及び偏光測定方法

開放特許情報番号
L2022000123
開放特許情報登録日
2022/1/26
最新更新日
2022/1/26

基本情報

出願番号 特願2019-184774
出願日 2019/10/7
出願人 国立大学法人宇都宮大学
公開番号 特開2021-060288
公開日 2021/4/15
発明の名称 偏光測定装置及び偏光測定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 偏光測定装置及び偏光測定方法
目的 測定対象の偏光状態に関するフルストークス・パラメータをビデオレート以下の測定速度で測定でき、且つモータを備える装置に比べて測定範囲を広く確保できる偏光測定装置及び偏光測定方法を提供する。
効果 測定対象の偏光状態に関するフルストークス・パラメータをビデオレート以下の測定速度で測定でき、且つモータを備える装置に比べて測定範囲を広く確保できる。
技術概要
入射光が透過光と反射光とに分岐される分岐面を有する分岐部と、
前記分岐面で分岐された前記透過光の偏光方向を所定の角度変更する偏光方向変更部と、
前記偏光方向変更部で偏光方向を所定の角度変更され且つ互いに異なる偏光方向の前記透過光を通過させる複数の第1微小偏光子を有する複数の第1受光素子が設けられた第1受光部と、
互いに異なる偏光方向の前記反射光を通過させる複数の第2微小偏光子を有する複数の第2受光素子が設けられた第2受光部と、
前記複数の第1微小偏光子を通過して前記複数の第1受光素子の各々で受光された複数の第1光強度と、前記複数の第2微小偏光子を通過して前記複数の第2受光素子の各々で受光された複数の第2光強度とを、互いに対応する位置に設けられた前記複数の第1受光素子及び前記複数の第2受光素子ごとに同時に取得し、前記複数の第1光強度と前記複数の第2光強度とに基づいてフルストークス・パラメータを算出し、前記入射光の偏光情報を得る計算部と、
を備える、偏光測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 宇都宮大学

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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