超音波速度・減衰係数計測方法

開放特許情報番号

L2022000100

開放特許情報登録日

2022/1/24

最新更新日

2022/1/24

基本情報

出願番号	特願2005-061145
出願日	2005/3/4
出願人	国立大学法人東北大学
公開番号	特開2006-242852
公開日	2006/9/14
登録番号	特許第4621913号
特許権者	国立大学法人東北大学
発明の名称	超音波速度・減衰係数計測方法
技術分野	情報・通信
機能	制御・ソフトウェア
適用製品	超音波速度・減衰係数計測方法
目的	固体、液体、及び、生体試料における音波、或いは、減衰係数の周波数特性をUHF帯まで、簡便且つ高精度に計測する超音波速度・減衰係数計測方法を提供する。
効果	超音波計測における減衰の大きい液体カプラ、液体試料、或いは生体試料を薄くすることにより、UHF帯までの超音波速度及び減衰係数を計測可能とする効果が得られる。また、バッファーロッドと、固体試料等との間にスペーサを設置することにより、バッファーロッドと固体試料等との距離、及び、平行度を調節する機構が不要となり、装置の小型化と計測の簡便化、及び、高精度化が可能となるという効果が得られる。
技術概要	厚さd↓3の板状の固体試料における超音波速度v↓3及び減衰係数α↓3の周波数特性を計測する装置において、バッファーロッドと固体試料との間隙を満たす超音波速度v↓2の液体の薄層をカプラとして設置し、固体試料をバッファーロッドに対し押圧する加重印加手段を設け、薄層の厚さd↓2が2d↓2/v↓2＜Wを満たすようにスペーサの厚さが選択されており、薄層で超音波を多重反射及び透過させる超音波速度・減衰係数計測方法であり、 (a) 薄層からの第１反射信号と固体試料からの第２反射信号をバッファーロッドを介して受信し、 (b) 固体試料の超音波速度と減衰係数の仮定値を決め、 (c) 仮定値を使って固体試料内における回折の影響を計算により求め、 (d) 第１および第２反射信号と回折の影響を使って回折の影響を補償した超音波速度と減衰係数を計算し、 (e) 補償した超音波速度と減衰係数が仮定値と所定誤差範囲内で一致するか判定し、 (f) 所定誤差範囲内で一致しない場合は仮定値を変化させて工程(c), (d), (e)を実行することを繰り返すことにより得られた最終の仮定値を固体試料の超音波速 度と減衰係数とする、 ことを特徴とする超音波速度・減衰係数計測方法。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	国立大学法人東北大学

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】