測定装置及び測定方法

開放特許情報番号
L2021001781
開放特許情報登録日
2021/11/29
最新更新日
2021/11/29

基本情報

出願番号 特願2013-545857
出願日 2012/10/24
出願人 国立大学法人東京農工大学
公開番号 WO2013/077137
公開日 2013/5/30
登録番号 特許第5946193号
特許権者 国立大学法人東京農工大学
発明の名称 測定装置及び測定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 試料媒質中の粒子の動的光散乱測定を行う測定装置及び測定方法
目的 界面からの距離に依存した試料媒質中の粒子の動態計測を同時に行うことが可能な測定装置及び測定方法を提供する。
効果 位相変調された光と散乱光を波長分解して、位相変調された光と散乱光との干渉光の分光スペクトルを取得し、取得した干渉光の分光スペクトルに基づき試料媒質中の散乱点の位置(界面からの距離)毎の粒子の拡散係数を求める処理を行うことで、試料媒質中の散乱点の位置に依存した粒子の動態計測を同時に行うことができる。
技術概要
試料媒質中の粒子の動的光散乱測定を行う測定装置において、
低コヒーレンス光源からの光を分割する光分割部と、
前記光分割部で分割された一方の光を試料媒質に照射する照射部と、
前記光分割部で分割された他方の光を位相変調する位相変調部と、
前記位相変調された光と試料媒質からの散乱光を波長毎に分解して、前記位相変調された光と前記散乱光との干渉光の分光スペクトルを取得する分光スペクトル取得部と、
取得した分光スペクトルに基づいて粒子の動的光散乱測定を行う測定部とを含み、
前記測定部が、
取得した分光スペクトルに基づき試料媒質における散乱点の位置毎の強度信号を求め、前記散乱点の位置毎の強度信号の時間変化に基づき前記散乱点の位置毎のパワースペクトルを求め、求めたパワースペクトルに基づき前記散乱点の位置毎の粒子の拡散係数を求める、測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 国立大学法人東京農工大学

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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