位相雑音計測装置、および位相雑音計測方法

開放特許情報番号
L2021001753
開放特許情報登録日
2021/11/19
最新更新日
2021/11/19

基本情報

出願番号 特願2019-044951
出願日 2019/3/12
出願人 学校法人日本大学
公開番号 特開2020-148544
公開日 2020/9/17
発明の名称 位相雑音計測装置、および位相雑音計測方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 位相雑音計測装置、および位相雑音計測方法
目的 デジタル位相雑音計測において、ハードウェア規模を縮小できる位相雑音計測装置、および位相雑音計測方法を提供する。
効果 デジタル位相雑音計測において、ハードウェア規模を縮小できる位相雑音計測装置、および位相雑音計測方法を提供できる。
技術概要
第1クロック信号に基づいて、位相雑音を有する発振器の信号を第1デジタル信号に変換する第1アナログデジタル変換部と、
第2クロック信号に基づいて、前記発振器の前記信号を第2デジタル信号に変換する第2アナログデジタル変換部と、
前記第1デジタル信号を、ダウンコンバージョン方式で処理することで、第1ベースバンド信号に変換する第1ダウンコンバージョンと、
前記第2デジタル信号を、ダウンコンバージョン方式で処理することで、第2ベースバンド信号に変換する第2ダウンコンバージョンと、
前記第1ベースバンド信号を高速フーリエ変換する第1高速フーリエ変換部と、
前記第2ベースバンド信号を高速フーリエ変換する第2高速フーリエ変換部と、
第1高速フーリエ変換部が出力した第1信号と、前記第2高速フーリエ変換部が出力した第2信号とを平均化する平均化部と
を備え、
前記第1クロック信号の周波数成分と、前記第2クロック信号の周波数成分とが一致し、前記第1クロック信号の位相雑音成分と、前記第2クロック信号の位相雑音成分とが一致しないように制御されている、位相雑音計測装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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