分光測定装置、および、分光測定プログラム

開放特許情報番号

L2021001033

開放特許情報登録日

2021/8/6

最新更新日

2023/1/26

基本情報

出願番号	特願2019-059573
出願日	2019/3/27
出願人	国立研究開発法人物質・材料研究機構
公開番号	特開2020-159867
公開日	2020/10/1
登録番号	特許第7195540号
特許権者	国立研究開発法人物質・材料研究機構
発明の名称	分光測定装置、および、分光測定プログラム
技術分野	情報・通信
機能	機械・部品の製造
適用製品	蛍光体などの発光材料の外部量子効率、吸収率および内部量子効率を分光測定する分光測定装置、および、その分光測定プログラム
目的	エネルギー校正による不確かさの影響を低減した、蛍光体等の発光材料の外部量子効率、吸収率および内部量子効率を分光測定する分光測定装置、および、その分光測定プログラムを提供する。
効果	高価な装置を用いることなく、あるいは、エネルギー校正されていない装置を用いる精度よく量子効率等の光学特性を測定できる。詳細には、励起波長域で測定したフォトン数と発光波長域で測定したフォトン数とは独立に計算に寄与するため、二つの離れた波長域間でのエネルギー校正のずれの影響を受けることなく量子効率を得ることができる。また、励起光の測定が不要なため、白色標準試料に起因する不確かさを低減でき測定時間も短縮できる。
技術概要	試料に励起光を照射する光源と、 前記励起光の照射によって前記試料が発する光の波長スペクトルを取得する分光手段と、 前記波長スペクトルに対してデータ解析を行うデータ解析手段と を備えた分光測定装置であって、 前記データ解析手段は、前記試料として光学特性が値付けされている標準物質を前記光源からの励起光で励起させた際に、前記分光手段で取得した前記励起光に起因する前記標準物質からの光の波長スペクトルと、前記試料として被験物質を前記光源からの励起光で励起させた際に、前記分光手段で取得した前記励起光に起因する前記被験物質からの被測定光の波長スペクトルとを用いて、前記被験物質の計測値をデータ解析する、分光測定装置。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	国立研究開発法人物質・材料研究機構

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】