閾値算出装置、閾値算出方法および測定装置

開放特許情報番号

L2021001032

開放特許情報登録日

2021/8/6

最新更新日

2024/2/21

基本情報

出願番号	特願2020-047230
出願日	2020/3/18
出願人	国立研究開発法人物質・材料研究機構
公開番号	特開2020-160067
公開日	2020/10/1
登録番号	特許第7425473号
特許権者	国立研究開発法人物質・材料研究機構
発明の名称	閾値算出装置、閾値算出方法および測定装置
技術分野	情報・通信
機能	機械・部品の製造
適用製品	閾値算出装置、閾値算出方法および測定装置
目的	閾値を求める測定方法において、求められる閾値の精度を向上することである。さらには、測定データを解析する人に依存する要素を排除する。
効果	環境変数を変化させたときの複数の測定値からなる測定データから求められる閾値を、精度よく求めることができる閾値算出手段を備えた測定装置を提供することができ、測定者の知識や経験に依存しない閾値の算出が可能となる。
技術概要	試料のおかれている環境を表す量の１つである環境変数を変化させたときに前記試料から得られる測定値をそのときの環境変数に対応付けて構成された測定データから閾値を算出する閾値算出装置であって、入力部と、測定データ変換部と、回帰分析範囲指定部と、第１及び第２回帰分析部と、誤差評価部と、閾値算出部とを備え、 測定データ変換部は、複数の変換値からなる変換データを生成することができ、 回帰分析範囲指定部は、環境変数の範囲である分析範囲を指定することができ、 第１回帰分析部は、第１誤差を算出することができ、 第２回帰分析部は、第２誤差を算出することができ、 誤差評価部は、第１及び第２回帰分析部に変更された分析範囲での回帰分析をそれぞれ実行させることができ、 閾値算出部は、第１回帰関数に基づいて閾値を算出することができる、 閾値算出装置。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	国立研究開発法人物質・材料研究機構

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】